搞功率电子设计的工程师们,是否也被双脉冲测试中繁琐的时序偏差校准折磨得没脾气?传统方法要拆线、换电阻、调探头,一套流程下来一小时就没了,效率低到让人抓狂。泰克科技推出的WBG-DPT双脉冲测试软件,用基于软件的时序偏差校准技术,直接把校准时间从1小时压缩到5-10分钟,这背后到底是怎样一种黑科技?
双脉冲测试的核心目标是**测量开关过程中的能量损耗。要计算能量损耗(E = ∫p(t)dt),必须先得到**的功率波形(p(t) = v(t)*i(t)),而这就要求电压探头和电流探头采集的信号在时间上必须严格对齐。
传统校准方法是这样的:先要拆掉负载电感,换上一个电阻负载,然后反复调整匹配低压侧漏源电压(VDS)和漏极电流(ID)的测量值。这个过程不仅耗时,而且需要重新布线,在高电压大电流应用中尤其麻烦,稍微不注意还得重来。
更头疼的是,不同探头、不同测试夹具引入的延迟都不一样,每次更换设备或者调整测试 setup,整个校准流程就得重新走一遍。工程师的时间,就这么一点点被耗在了重复劳动上。
泰克WBG-DPT软件的做法很巧妙——它把硬件问题用软件解决了。这套方案的核心思路是:先测试,后校准,彻底告别重新布线。
具体来说,软件会采集漏极电流(ID)作为参考波形,然后利用测试电路的参数化模型,计算出低压侧VDS的“理想”对齐波形。这个计算过程基于基尔霍夫电压定律,考虑了电源轨电压、高侧FET压降、分流电阻和整个回路的有效电感等多个参数。
算法会比较计算出的VDS波形和实际测量的VDS波形之间的时间偏差,然后将这个偏差值直接应用到VDS测量通道进行补偿。整个过程都在软件中完成,不需要动任何一根线。
关键参数设置:
探头阻抗:通常是电流检测电阻或分流电阻的阻值
有效回路电感(Leff):整个电源回路的等效电感,需要迭代调整
偏置电压:低压侧FET关断时两端的平均VDS
差分阶数:模型用于平滑处理的滤波器阶数
Leff参数通常是未知的,需要反复调试。但软件允许实时调整参数并立即看到效果,大大简化了这个过程。当计算出的VDS对齐波形与实际测量的VDS波形形状完全匹配时,说明参数设置正确,系统就能自动计算并应用时序偏差校正。
**步:连接设备并采集数据
正常连接你的示波器、电压探头和电流探头,按照标准双脉冲测试流程进行测量。不需要拆卸负载电感或更换电阻,也不需要担心初始的时序偏差。
第二步:启动WBG-DPT软件
在泰克4系、5系或6系MSO示波器上启动WBG-DPT软件,选择Deskew功能。软件会自动识别到采集到的ID和VDS波形。
第三步:设置校准参数
输入以下关键参数:
探头阻抗(通常是你的分流电阻值)
有效回路电感(Leff,初始值可估算,后续迭代调整)
偏置电压(低压侧FET关断时的平均VDS)
差分阶数(通常保持默认即可)
第四步:迭代优化并应用校准
点击Deskew按钮,观察计算出的VDS对齐波形与实际测量的VDS波形形状。如果形状不一致,调整Leff值并重新计算。一旦形状匹配,软件会显示计算出的时序偏差值,并自动应用到VDS测量通道。
现在的WBG-DPT版本甚至能自动确定有效电感和偏置电压等电路参数,进一步减少了手动干预的需要。
这种基于软件的时序偏差校准方法,将原本需要1小时甚至更长时间的校准过程缩短到了5-10分钟。而且因为不需要重新布线,不仅节省了时间,还减少了因频繁插拔连接器可能导致的操作失误或设备损坏。
更重要的是,这种方法适用于各种功率转换器,无论是使用场效应晶体管(FET)还是绝缘栅双极晶体管(IGBT)的设计都能受益。对于现在流行的宽禁带半导体器件(如SiC和GaN),其开关速度更快,对时序校准精度的要求更高,这种软件方法的优势更加明显。
个人观点:
这种软件定义的校准方法代表了一个重要趋势:用算法补偿硬件局限。它不仅解决了眼前的测试效率问题,更重要的是提供了一种思路——通过软件智能来简化硬件调试的复杂性。
我认为,随着AI和机器学习技术的发展,未来这类校准可能会更加智能化。比如系统能够自动学习测试环境特性,或者通过历史数据预测*优参数设置,进一步减少人工干预。
不过,这种方法目前还需要工程师对电路参数有深入理解,特别是在调整Leff这样的参数时。未来如果能够进一步增强自动化程度,降低使用门槛,将会惠及更多工程师。
值得注意的是,这种软件方法虽然强大,但并不能完全替代对硬件基础的要求。良好的探头选择、合理的测试设置仍然是获得准确数据的基础。软件校准是在这个基础上“锦上添花”,而不是“雪中送炭”。
随着功率电子向高频、**方向发展,测试测量技术的创新同样重要。像泰克WBG-DPT这样的工具,正在帮助工程师跟上技术发展的步伐,把更多时间花在创新而不是调试上。
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